VersaScan 微區(qū)掃描電化學(xué)測試系統(tǒng)
產(chǎn)品介紹：
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上，可進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。每套VersaSCAN系統(tǒng)都具有較高分辨率；長工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺上，不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計，壓電振動單元，或者激光傳感器，定位系統(tǒng)為不同掃描探針試驗提供不同的功能。
VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統(tǒng)整合在一起，由以太網(wǎng)來控制，保證小信號的測量
它是一個模塊化配置的系統(tǒng)，可以實現(xiàn)如下微區(qū)掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測試：
Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡測試
-AC-SECM 無氧化還原介質(zhì)掃描電化學(xué)顯微鏡
-Stylus-Probe 柔性探針技術(shù)-等距離掃描電化學(xué)顯微鏡
Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試
Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試
Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測試
Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試
Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測試
Ion Selective Probe (ISP) 表面離子濃度成像系統(tǒng)
以上每項技術(shù)使用不同的測量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是不接觸到樣品。隨著探針測試的進行，改變探針的空間位置，然后將所記錄的數(shù)據(jù)對探針位置作圖，針對不同技術(shù)，該圖可以呈現(xiàn)微區(qū)電化學(xué)電流，阻抗，相對功函或者是表面形貌圖。
典型應(yīng)用：
VersaSCAN SECM掃描電化學(xué)測量可應(yīng)用于反應(yīng)動力學(xué)，生物傳感器，催化劑和腐蝕機理等研究；
VersaSCAN SVET掃描振動電極測量可應(yīng)用于不均勻腐蝕，點蝕，焊接和電耦合等應(yīng)用研究；
VersaSCAN LEIS微區(qū)電化學(xué)阻抗測試可應(yīng)用于有機涂層，裸露的金屬腐蝕等研究；
VersaSCAN SKP掃描開爾文探針測試可應(yīng)用于材料，半導(dǎo)體，金屬腐蝕等研究；
VersaSCAN SDC電解液微滴掃描測試可應(yīng)用于動力學(xué)，腐蝕，流體研究和研究樣品表面微小面積而無需破壞樣品的應(yīng)用或者控制面積在不同電解液中的暴露時間的應(yīng)用。
VersaSCAN OSP非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測試可用于表面形貌測量或繪制地形圖與其它掃描探針技術(shù)一起應(yīng)用于樣品表面定距離掃描測試等。
品牌Brand：AMETEK Princeton Applied Research
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計基礎(chǔ)上可進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。
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